![]() |
學(xué)校地址:湖南省 長沙市 雨花區(qū) 車站南路紅花坡路口 |
![]() |
學(xué)校地址:湖南省 長沙市 雨花區(qū) 車站南路紅花坡路口 |
一、在主板與內(nèi)存的數(shù)據(jù)引腳是64個(gè),D0-D63,為了保護(hù)內(nèi)存的數(shù)據(jù)位腳,在D0-D63這64個(gè)數(shù)據(jù)位腳都加有一個(gè)阻值不在的電阻,(10歐)起限流作用。而測試儀主要的原理是用程序重復(fù)測試內(nèi)存芯片的每個(gè)數(shù)據(jù)位引腳,看有沒有擊穿或短路的數(shù)據(jù)位引腳,還有就是芯片的時(shí)鐘引腳、地址引腳。
所以用萬用表測試芯片時(shí)也可用測試儀的方法來測,只要紅筆對(duì)地(1腳),黑筆測量排陰阻的阻值,就是內(nèi)存芯片數(shù)據(jù)位的阻值來判斷是哪個(gè)芯片壞了,正常的話每個(gè)數(shù)據(jù)位阻值相同。但還是沒有測試儀那么直觀,用這種方法可測量DDR內(nèi)存芯片的好壞。
二、 用測試儀測量內(nèi)存芯片方法
根據(jù)使用說明書,測量的內(nèi)存在2A、2B這里,指單組和雙組的意思。但16位的芯片有8個(gè),也相當(dāng)于是兩組,8位的芯片有16個(gè)也相當(dāng)于兩組。2A為第二組,2B為第一組。
測量時(shí)會(huì)循環(huán)測試每一組中的每一個(gè)芯片的數(shù)據(jù)位腳。一般測了3次―5次沒壞就是好的。好的芯片為:PASS。壞的芯片就顯示出壞的數(shù)據(jù)位引腳。
1、 開機(jī)跳不進(jìn)測試,一般有:芯片短路、PCB板短路。解決方法為把芯片拆下來換到好的PCB板上試芯片好壞,看是什么問題。
2、 內(nèi)存測試儀不測試SPD芯片,SPD芯片可有可無
3、 金手指燒了的話也不能測試,必須把芯片拆下?lián)Q到好的PCB板上試芯片好壞
|
關(guān)于收錄1 |
關(guān)于收錄2 |
網(wǎng)站幫助 |
廣告合作 |
下載聲明 |
友情連接 |
網(wǎng)站地圖 |
| 共有文章: 15518 篇
今日新文: 62 篇
當(dāng)前在線: