從設(shè)計上延長手機電池壽命

    好像手機電池之壽命還不夠短，如果處理不好漏泄功率之話，頻繁之充電可能會成為向高級處理系統(tǒng)之升級之障礙。 

　　正常操作時，當(dāng)某個ic設(shè)備 處于激活狀態(tài)（比如當(dāng)某人正在使用手機打電話）時，它會產(chǎn)生動態(tài)功率。當(dāng)該設(shè)備被關(guān)閉時，漏泄功率仍能將電池耗盡。在180、130、甚至90納米工藝中，漏泄功率只就是動態(tài)功率之一小部分，這樣當(dāng)電池繼續(xù)被消耗時，消耗速率極低。 

　　zenasis technologies之首席技術(shù)官兼董事會主席jay roy介紹說，以65與45納米工藝生產(chǎn)出之設(shè)備，漏泄功率相當(dāng)大。 

　　比如，如果一部手機三天沒有充電而且仍能使用，假設(shè)每小時通話15分鐘，如果漏泄功率翻一倍之話，電話之使用壽命會降到兩天甚至更短。 

　　此外，如今手機設(shè)計中功率之高集中度導(dǎo)致設(shè)備自己發(fā)熱，再加上設(shè)備之互連，使得芯片中溫度變化顯著。而包裝技術(shù)也對降低這種變化沒有能為力，盡管他們能降低芯片之平均溫度。gradient電子設(shè)計自己化公司創(chuàng)始人、總裁兼ceo rajit chandra解釋道。 

　　“溫度之變化會極大程度地影響設(shè)備性能之發(fā)揮，特別就是在模擬電話中；同時電線中之電遷移也會由于溫度上升而增加，從而從根本上降低產(chǎn)品壽命�！彼f。 

　　此外，由于越來越多地采用電池供電之便攜式電子系統(tǒng)，以及包裝成本之不斷增加，導(dǎo)致市場對那些在 低程度地消耗功率同時又能提供高性能之集成電路之需求迅猛增長。magma設(shè)計實施業(yè)務(wù)部門之產(chǎn)品經(jīng)理arvind narasimhan表示。 

　　這些問題給努力滿足功率預(yù)算之設(shè)計小組帶來了大麻煩，因為對于電子沒有線設(shè)備而言，通話時間、玩游戲與播放音樂之時

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