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02數(shù)RAM不對(duì) (72PIN之SIMM MODULE)
1. 先查BANK0,插上2支SIMM MODULE測(cè)試是否正確
1.1 BANK0正確時(shí),請(qǐng)接第2項(xiàng)
1.2 BANK0不正確時(shí),請(qǐng)接第3~4項(xiàng)
2. BANK0正確時(shí), 則換BANK1插上2支SIMM MODULE測(cè)試是否正確
2.1 BANK1正確時(shí)請(qǐng)接第5項(xiàng)
2.2 BANK1不正確時(shí)請(qǐng)接第5項(xiàng)
3. 查I/O CHECK是否為HIGH → I/O CHECK若為LOW時(shí),只讀64K或640K
4. 查CPU Address A21~以后之Address是否SHORT → 若SHORT只讀640K
5. 針對(duì)不正確之BANK找出問(wèn)題點(diǎn)
5.1 每支SIMM之D0~D63 (MD0~MD63) 及MA0~MA11, DP0~DP7, RAS0~RAS3,
CAS0~CAS7之信號(hào)相關(guān)之零件,線路是否OPEN or SHORT或接觸不良
6. 查MEM CS16之信號(hào)相關(guān)之零件,線路是否OPEN or SHORT
B. 02數(shù)RAM不對(duì) (168PIN之DIMM MODULE)
1. 同A項(xiàng)之方法依序找出問(wèn)題
2. 因DIMM MODULE可支持SDRAM故多出許多信號(hào)PIN (例如DIMM CLK, SMBDATA, SMBCLK, MA12, MA13, 參考線路圖)
3. 檢查DIMM SOCKET之PIN是否接觸不良 (凹陷) ,折腳.
C. 12MEMORY TEST FAILED (HIGH MEMORY ERROR)
1. 進(jìn)CMOS SETUP之Advance將External Cache改為Disable,進(jìn)入CHECKIT3.0測(cè)試若正常則為External Cache (PB, TAGRAM) 之問(wèn)題,以二分法逐一更換測(cè)試之
2. 將External Cache改為Disable,進(jìn)入CHECKIT3.0測(cè)試若一進(jìn)入MEMORY TEST即當(dāng)機(jī)請(qǐng)查:
2.1 ISA SLOT A1 PIN (I/O CHECK) 之信號(hào)是否正確 → 應(yīng)為HIGH
2.2 PCI之SERR, IRDY, STOP, TRDY, FRAME, DEVSEL之信號(hào)及相關(guān)之零件,線路是否OPEN or SHORT
3. 查SIMM or DIMM (同數(shù)RAM不對(duì))
D. HIGH MEMORY ERROR
1. 參考上述之方法找出問(wèn)題
2. 查CPU之A
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