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如何開機時多次執(zhí)行內(nèi)存檢測
★★★★★【文章導讀】：如何開機時多次執(zhí)行內(nèi)存檢測具體內(nèi)容是：我的電腦在開機時總是多次執(zhí)行內(nèi)存檢測，十分浪費時間，請問有什么辦法能減少檢測次數(shù)？一個方法是在檢測是按ESC鍵跳過檢測步驟。另一個方法是在BIOS中將多次檢測的參數(shù)取消，具體方法是：（1）在開機后按Del鍵進入B…
來源： 日期：2013-10-23 19:25:43 人氣：標簽：
我的電腦在開機時總是多次執(zhí)行內(nèi)存檢測，十分浪費時間，請問有什么辦法能減少檢測次數(shù)？
一個方法是在檢測是按ESC鍵跳過檢測步驟。另一個方法是在BIOS中將多次檢測的參數(shù)取消，具體方法是：
（1）在開機后按Del鍵進入BIOS設(shè)置。
（2）在主界面中選擇BIOS FEATURS SETUP項，將其中的Quick Power On Self Test設(shè)為 Enabled。
（3）按F10鍵后選擇保存退出即可。
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